兩探針電阻率測試儀(測硅芯 KDY-2/M406120   

兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般四探針法。

兩探針電阻率測試儀(測硅芯 KDY-2/M406120   
整套儀器有如下特點
1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更方便，測量更精確。
數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。
3、測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA
4、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
5、可加配電腦，安裝KDY測量系統(tǒng)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動換向測量、求平均值，計算、存儲并打印電阻率大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。

兩探針電阻率測試儀(測硅芯 KDY-2/M406120